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工业用显微镜图标

半导体检查装备图标
表面宏 用目测就能够宏观检查晶圆表面的异物、伤痕、膜斑、散焦等问题。如配合使用选件中的特殊宏照明装备置,则能更容易地查看缺陷。
内面宏 用目测就能够宏观检查内面的异物、伤痕等。依靠菜单设置能够设定晶圆观测角度,而且能随意变更。
单盒带 对应单晶圆盒带规格,能够满足客户在使用方法和预算上的要求。

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