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半导体/FPD检查显微镜

用于大型半导体晶圆和FPD玻璃底板检查,装有大型载物台的金相显微镜。
全自动半导体检查显微镜 MX61A
全自动半导体检查显微镜

MX61A

能综合控制外围设备、对应300 mm晶圆的电动型号(反射专用)。

明视场 暗视场 微分干涉 荧光 简易偏振光 自动调焦 PC控制 对应300 mm 晶圆

半导体/FPD检查显微镜 MX61L
半导体/FPD检查显微镜

MX61L

能对应300 mm晶圆和17英寸FPD玻璃基板的电动型号(反射透射兼用)。

明视场 暗视场 微分干涉 荧光 简易偏振光 透射 对应300 mm 晶圆

半导体/FPD检查显微镜 MX61
半导体/FPD检查显微镜

MX61

能应对200 mm晶圆和FPD玻璃基板的电动型号(反射透射兼用)

明视场 暗视场 微分干涉 荧光 简易偏振光 透射

工业检测显微镜 MX51
工业检测显微镜

MX51

能对应150 mm晶圆/FPD玻璃基板的手动操作型号(反射透射兼用)。

明视场 暗视场 微分干涉 荧光 简易偏振光 透射

近红外检查系统显微镜 MX-IR/BX-IR
近红外检查系统显微镜

MX-IR/BX-IR

能观察IC内部的近红外线(IR)观察专用型号(反射透射兼用)。

明视场 近红外线 透射 对应300 mm 晶圆

深紫外检测系统 U-UVF248
深紫外检测系统

U-UVF248

能以高倍率、高对比度进行深紫外线(DUV)观察的型号。

明视场 暗视场 微分干涉 荧光 简易偏振光 深紫外线 对应300 mm 晶圆

自动300 mm晶圆搬送机 AL120-12
自动300 mm晶圆搬送机

AL120-12

提高300 mm晶圆原料利用率和生产率的手动搬运装置。

表面宏 内面宏 单盒带 对应300 mm 晶圆

自动晶圆搬送机 AL110
自动晶圆搬送机

AL110

提高晶圆原料利用率和生产率的手动搬运装置。

表面宏 内面宏 单盒带

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