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IR(红外线)观察

IR观察对使用了硅片、薄膜等透射红外线(IR)材料的电子器件的内部观察十分有效。最近,特别适用于半导体硅衬底侧的CSP研究开发。此外,除了IR观察,IR物镜被用于近红外线拉曼光谱仪,IR显微镜被用于YAG激光(1064 nm)的激光修正。

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