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深紫外检测系统 U-UVF248

半导体/FPD检查显微镜 U-UVF248

能以高倍率、高对比度进行深紫外线(DUV)观察的型号

采用了适合深紫外线248 nm的光学系统,实现了分辨率高达0.08 μm的高对比度成像。可以根据样品的大小分别选择MX61L/MX61/MX51。

深紫外检测系统 U-UVF248
深紫外检测系统U-UVF248
观察影像实例
晶圆(DUV观察)
晶圆(DUV观察)

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